本发明公开一种蜂巢式芯片老化检测平台，包括若干检测模块，所述检测模块呈柱形结构，且检测模块的横截面为正n边形，其中n为大于等于3的自然数，若干所述检测模块的侧面一一贴合连接形成蜂巢式结构，每一所述检测模块内均设有n个多功能PCB板以及与多功能PCB板一一对应电连接的n个老化冶具，所述老化冶具上放置有若干个检测芯片。本发明检测模块一一贴合形成蜂巢式结构，每一检测模块内可设置多个老化冶具和多功能PCB板，蜂巢式结构能够充分利用设备空间，从而大大提高老化检测效率，可根据实际产能需求来自由组合检测模块，模块化设计，便于客户增加产能和扩充设备容量。