触摸屏像素点电容值均值的获取方法、装置以及检测方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种触摸屏像素点电容值均值的获取方法、装置以及检测方法,该方法包括以下步骤:S10、任意获取N片触摸屏每一个像素点电容值,其中每一片触摸屏具有M个像素点;S20、对N片触摸屏上相同位置的一组像素点,按照电容值从小到大进行排序,构成像素点队列;S30、循环多轮地剔除像素点队列中离均差超出电容值波动范围的首位像素点或末位像素点,并且在每轮剔除时判断二者是否要成对剔除;S40、将剔除后剩余像素点的电容值的算数平均值作为该位置像素点的电容值均值,并返回至触摸屏检测设备,以其作为评判触摸屏像素点是否合格的标准。本发明解决了现有技术中因像素点电容值波动差异较大导致测试时误判、错判、良率不高的问题。

基本信息
专利标题 :
触摸屏像素点电容值均值的获取方法、装置以及检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114490225A
申请号 :
CN202210352879.0
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-04-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郭晓璋王超
申请人 :
合肥创发微电子有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期J2A栋19层1901室
代理机构 :
合肥市上嘉专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
叶洋军
优先权 :
CN202210352879.0
主分类号 :
G06F11/22
IPC分类号 :
G06F11/22  G06F11/26  G06F3/044  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20220406
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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