本发明公开了一种获取样品未成对电子绝对自旋数目的方法，该方法包括：测试点状样品在谐振腔内不同位置的第一电子顺磁共振信号，得到谐振腔空间分布函数；测试校准样品在谐振腔内的第二电子顺磁共振信号强度，得到谐振腔校正因子；测试待测样品在谐振腔内的第三电子顺磁共振信号，并对第三电子顺磁共振信号进行二次积分，得到第二二次积分面积；根据待测样品的体积、第二二次积分面积、电子自旋量子数，谐振腔的空间分布函数、校正因子及实验设置参数，得到待测样品的未成对电子绝对自旋数目。该方法无需引入标准样品或参考样品，无需使用成像装置，且无需使用已知自旋数目的点状样品便可确定待测样品的未成对电子绝对自旋数目。