增加芯片同测数目的方法

发明专利申请公布后的驳回

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摘要

本发明公开了一种增加芯片同测数目的方法，多台测试仪共同使用一台探针台，共同使用一个探针卡或硬件接口对被测体进行测试，合并多台独立测试仪的测试功能。本发明可增加芯片同测数目，降低设备成本，充分利用测试资源，减少测试时间，提高测试效率。

基本信息

专利标题：

增加芯片同测数目的方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1979197A

申请号：

CN200510111284.2

公开（公告）日：

2007-06-13

申请日：

2005-12-08

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

桑浚之谢晋春

申请人：

上海华虹NEC电子有限公司

申请人地址：

201206上海市浦东新区川桥路1188号

代理机构：

上海浦一知识产权代理有限公司

代理人：

丁纪铁

优先权：

CN200510111284.2

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G01R31/28 H01L21/66

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/26

•单个半导体器件的测试

法律状态

2010-11-03 ：

发明专利申请公布后的驳回

号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101036787806
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利申请号 : 2005101112842
公开日 : 20070613

2007-08-08 ：

实质审查的生效

2007-06-13 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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