一种SLT自动多芯片同测装置中的芯片位置调整机构
授权
摘要
本实用新型提供了一种SLT自动多芯片同测装置中的芯片位置调整机构，属于机械技术领域。一种SLT自动多芯片同测装置中的芯片位置调整机构，包括机架，机架上固定有椭圆状的轨道，轨道上滑动设置有若干滑块，滑块上部具有向下凹陷且用于放置芯片的容置区，滑块中部开设有通孔，通孔位于容置区中心位置，滑块侧部开设有若干与容置区相连的通道，通道处设置用于固定芯片的固定结构，轨道上设置有能够带动芯片转动的转动结构，轨道一侧固定有固定架，固定架上固定有检测装置，检测装置通过线路与转动结构相连。本实用新型具有提高检测效率的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种SLT自动多芯片同测装置中的芯片位置调整机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021584922.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-04
授权号 ：
CN212989574U
授权日 ：
2021-04-16
发明人 ：
宁建宇徐四九
申请人 ：
嘉兴威伏半导体有限公司
申请人地址 ：
浙江省嘉兴市平湖市经济开发区新兴二路988号3号楼1层
代理机构 ：
浙江永航联科专利代理有限公司
代理人 ：
蒋文
优先权 ：
CN202021584922.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01N33/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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