本实用新型公开了一种用于CIS测试的高同测数探针卡，与检测光源配合使用，其包括依次设置的PCB板、连接基板和与光源连接的光源托举部。在PCB板上设置有至少一个探针检测位点，在每个探针检测位点设置有至少一个与PCB板电连通的探针，在PCB上设置有用于固定探针的固定环，光源托举部与光源连接。在连接基板上还设置有至少一个连接口，连接口沿着PCB上的设置有探针检测位点的区域的外围设置。托盘的外边缘在连接基板上的正投影与连接基板的中心的距离小于连接口的外边缘与连接基板的中心的距离。利用本实用新型的高同测数探针卡能使光源的光线被充分照射于CIS，且具有更多的检测位点，检测精度高，确保更佳的检测效果。