基于半静态D触发器的支持可测性设计的电路
公开
摘要
本公开涉及基于半静态D触发器的支持可测性设计的电路。提供基于半静态D触发器的支持可测性设计的电路，能够在工作模式或测试模式下工作，电包括：时钟模块，配置为在测试模式下提供测试时钟信号；逻辑单元，包括多个半静态D触发器，每个半静态D触发器包括串联耦接的动态锁存器和静态锁存器，其中每个半静态D触发器中的动态锁存器的保持时钟电平为第一时钟电平，在测试模式下，多个半静态D触发器基于测试时钟信号工作，在测试时钟信号的每个时钟周期中，第一时钟电平的持续时间满足动态锁存器的最低工作频率，以及至少部分半静态D触发器中的每个半静态D触发器构成电路中支持可测性设计的扫描链中扫描寄存器的至少部分。
基本信息
专利标题 ：
基于半静态D触发器的支持可测性设计的电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563693A
申请号 ：
CN202210455914.1
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-04-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
范志军李楠薛可段恋华郭海丰
申请人 ：
深圳比特微电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新南六道航盛科技大厦801
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
张丹
优先权 ：
CN202210455914.1
主分类号 ：
G01R31/3183
IPC分类号 ：
G01R31/3183 G01R31/3185 G01R31/319 G06F30/333
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/3183
••••测试输入量的产生，例如测量矢量、图形或顺序
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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