一种太赫兹透射测试的芯片固定装置
授权
摘要
本实用新型涉及太赫兹透射测试装置领域，具体是涉及一种太赫兹透射测试的芯片固定装置，用于固定待测芯片，包括：基座、以及设置在所述基座上的芯片夹套；所述芯片夹套包括检测通孔，以及设置在所述检测通孔上与检测通孔连通且尺寸与芯片匹配的安装位；所述基座上设有与所述检测通孔连通的开口。通过使用基座与芯片夹套组合的安装方式，改善超材料芯片在透射检测时的固定效果，使待测芯片装夹更方便。
基本信息
专利标题 ：
一种太赫兹透射测试的芯片固定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220087495.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-10
授权号 ：
CN216747393U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
李茜李晓辉梁一峰
申请人 ：
太赫兹科技应用（广东）有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市黄埔区华峰路8号自编三栋4楼415房
代理机构 ：
广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
林伟斌
优先权 ：
CN202220087495.6
主分类号 ：
G01N21/3586
IPC分类号 ：
G01N21/3586 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3581
利用远红外光；利用太赫兹辐射
G01N21/3586
通过太赫兹时域频谱学
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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