一种高精度光波偏振态检测系统
授权
摘要
本申请涉及光波偏振态检测领域，尤其是涉及一种高精度光波偏振态检测系统，其技术方案要点是：包括依次设置且光路同轴的可旋转补偿器、偏振棱镜以及探测器，还包括用于支撑偏振棱镜的支撑机构，偏振棱镜能够在支撑机构上转动并能够定位在两个检偏位置上，偏振棱镜在两个所述检偏位置上的偏振方向相互正交；达到了尽可能提高光波偏振态的检测精度的目的。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度光波偏振态检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220219314.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-25
授权号 ：
CN216621467U
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
孟永宏朱宗洋杨良
申请人 ：
北京量拓科技有限公司
申请人地址 ：
北京市大兴区北京经济技术开发区西环南路26号院30号楼4层402C
代理机构 ：
北京维正专利代理有限公司
代理人 ：
郑雷
优先权 ：
CN202220219314.0
主分类号 ：
G01J4/00
IPC分类号 ：
G01J4/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J4/00
测量光的偏振
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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