光波导干涉电泳检测系统及方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明公开一种光波导干涉电泳检测系统,包括半导体激光器、分支光波导I、分支光波导II、光电探测器、被检测的毛细管电泳、主干光波导和计算机。它是利用半导体微细加工技术将半导体激光器、光电探测器、光波导等一体化集成在同一个硅片上。其检测方法是先见半导体激光器发出来的激光分成两束光,分别在两对称的分支光波导中传播,并在其中一个光波导的某段中被加上要被检测的毛细管电泳,当光分别经过两个分支光波导之后在主干光波导中发生干涉,干涉光通过光电探测器被探测,经过计算机可以显示其随时间变化的光谱图。本系统具有高灵敏度、体积小、无活动部件、集成化、成本低等特点,可广泛应用于生物分析化学、医学分析化学等领域。

基本信息
专利标题 :
光波导干涉电泳检测系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1834626A
申请号 :
CN200610070843.4
公开(公告)日 :
2006-09-20
申请日 :
2006-03-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈刚温志渝王建国
申请人 :
重庆大学
申请人地址 :
400044重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
代理机构 :
重庆华科专利事务所
代理人 :
康海燕
优先权 :
CN200610070843.4
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  B01D57/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2009-06-03 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-11-22 :
实质审查的生效
2006-09-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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