用矩形脉冲电流测试晶体管直流参数的仪器
被视为撤回的申请
摘要
本发明公开了用矩形脉冲电流测试晶体二极管和三极管的主要直流参数的原理和体现这种原理的实用电路。按此电路制成的样机体积为215×155×75mm3，重量为1.5kg，交、直流两用，有23个晶体管直流参数测试档位，可测试各种晶体二极管和三极管以及场效应管、单结管的下述直流参数：ICBO、ICEO、VF、VB、VZ、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCES、IDSS、gm、η等，最大电流4A，最高电压2000V，误差小于10％，本仪器还附加一个24档万用表。
基本信息
专利标题 ：
用矩形脉冲电流测试晶体管直流参数的仪器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85106936A
申请号 ：
CN85106936
公开（公告）日 ：
1987-02-11
申请日 ：
1985-09-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
谭维纲
申请人 ：
谭维纲
申请人地址 ：
湖北省武汉市武昌区珞瑜路23号武汉测绘学院电教中心
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN85106936
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
1990-12-12 ：
被视为撤回的申请
1987-02-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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