一种晶体管的测试电路
授权
摘要
本申请属于半导体测试领域，具体提供了一种晶体管的测试电路。其中，该晶体管的测试电路包括：由至少两条电源子支路并联组成的电源支路；由第一二极管和第一开关并联组成的开关支路；由第二二极管、电感和第四开关并联组成的保护支路；待测晶体管；以及第三二极管；其中，电源支路的正极端与开关支路的负极端连接；开关支路的正极端与保护电路的负极端连接；保护电路的正极端与待测晶体管的集电极连接；待测晶体管的发射极分别与电源支路的负极端、第三二极管的负极连接；第三二极管的正极与电源支路的负极端连接。基于本发明提供的技术方案，可以在不更换器件的情况下，快速实现在变母线电压的情况下对晶体管的测试。
基本信息
专利标题 ：
一种晶体管的测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122945038.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-26
授权号 ：
CN216747963U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
陈跃俊
申请人 ：
北京华峰测控技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市丰台区海鹰路1号2号楼7层
代理机构 ：
北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
韩登营
优先权 ：
CN202122945038.4
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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