一种晶体管高速筛选测试电路
授权
摘要
本实用新型实施例公开了一种晶体管高速筛选测试电路，包括第一放大电路、第二放大电路、第三放大电路、第四放大电路。本实用新型通过将其变化通过逐步的放大，从而使其显示出来，而且在测试电路中不需要输入或者接入不同的信号，可以将其输出信号作为输入信号进入下一阶段，从而可以实际的需求进行有限次的循环即可达到实际的测试精度。
基本信息
专利标题 ：
一种晶体管高速筛选测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122831225.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-15
授权号 ：
CN216411473U
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
黄水波李勉伟曹翔
申请人 ：
深圳市灿升实业发展有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区横岗街道保安社区简龙街20号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122831225.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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