一种晶体管设计电路用测试装置
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摘要
本实用新型公开了一种晶体管设计电路用测试装置，涉及晶体管测试技术领域，该晶体管设计电路用测试装置，包括底座，所述底座后表面固定安装有板架，所述板架表面固定安装有万能表，所述板架表面安装有接线筒。本实用新型通过托放架表面开设有托放槽，方便对需要进行测试的晶体管进行限位固定，利用托放槽内部弹簧推杆一端固定安装的夹持架，可对晶体管进行夹持固定，使晶体管接电端与接电片相互抵靠，同时通过板架表面固定安装的接线筒，方便插接连接线束，使接电片与万能表相互连接，从而可对晶体管进行测试，通过托台顶端表面滑扣安装的置物座，方便利用置物座顶端开设的置物槽对晶体管进行限位托放，提高晶体管的放置稳定性。
基本信息
专利标题 ：
一种晶体管设计电路用测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122994361.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-30
授权号 ：
CN216718588U
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
张道宇
申请人 ：
深圳市宇睿高电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华新区龙华办事处油松社区上油松尚游公馆1004室(办公场所)
代理机构 ：
深圳市鼎圣霏凡专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
袁野
优先权 ：
CN202122994361.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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