精密长度测量与控制实时综合修正方法及其装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型属于计量技术与控制技术领域，是一种对长度测量和位移控制时的He—Ne激光波长类长度基准器及其测长系统以及被测工件的各实时影响因素进行不用传感器采样的总体性综合修正的装置。主要由长度基准讯号交换系统，实时修正数据处理系统，终端显示记录控制系统组成，其始终直接溯源于He—Ne激光波长，能即时直接测量和显示被测工件的标准长度值。具有不需要传感器、量程大、精度高、操作便、应用广成本低等系列积极效果。
基本信息
专利标题 ：
精密长度测量与控制实时综合修正方法及其装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88211622.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-04-08
授权号 ：
CN2035868U
授权日 ：
1989-04-12
发明人 ：
张学能刘洪图
申请人 ：
上海第二光学仪器厂
申请人地址 ：
上海市枣阳路299号
代理机构 ：
上海工业大学专利事务所
代理人 ：
陶鑫良
优先权 ：
CN88211622.3
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1993-08-04 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1990-01-31 ：
授权
1989-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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