平面波天线零桥断层成像测试装置
专利申请的视为撤回
摘要
平面波天线零桥断层成像测试装置，属于非金属材料的无损检测和断层成像技术。本发明的微波部分设计采用B面扩展的窄波束喇叭作下斜馈源，同时物面反射体组合成一体，简便地构成予面波器射源：同时由微波零桥环路抵消强入射波信号。因而可以精确地检测出目标的微散射场，并直接计算和完成图象处理，由于该微波测试装置实现了大口径天线和强入射被照射，大大提高了系统的分辨力，可实现对较复杂结构的电介材料进行断层成像。
基本信息
专利标题 ：
平面波天线零桥断层成像测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1045182A
申请号 ：
CN89100589.7
公开（公告）日 ：
1990-09-05
申请日 ：
1989-02-21
授权号 ：
CN1015830B
授权日 ：
1992-03-11
发明人 ：
赵川东
申请人 ：
北京理工大学
申请人地址 ：
北京市海淀区白石桥路7号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN89100589.7
主分类号 ：
G01N22/00
IPC分类号 ：
G01N22/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N22/00
利用微波或者无线电波，即具有一毫米或更大的波长的电磁波测试或分析材料
法律状态
1993-06-16 ：
专利申请的视为撤回
1992-03-11 ：
审定
1990-09-05 ：
公开
1989-08-23 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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