光导微机型电介质测定仪
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
本测定仪为一台由微机6操纵并进行数据处理的一体化的电介质损耗测定仪。其内部主要由标准与被测信号输入取样电路1，标准与被测信号通道2、3，光模拟传输系统4、信号组合电路5、微机6、介质损与电容值显示器7、8以及电源系统、升压系统等组成。具有使用方便、操作简单、精度高、抗电磁干扰能力强、测量范围宽等优点。
基本信息
专利标题 ：
光导微机型电介质测定仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN89200195.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-12-31
授权号 ：
CN2060894U
授权日 ：
1990-08-22
发明人 ：
施亚民
申请人 ：
浙江省送变电工程公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市青春门外
代理机构 ：
浙江省专利事务所
代理人 ：
祝耀坤
优先权 ：
CN89200195.X
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
1997-07-09 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1994-05-04 ：
专利权有效期的续展(依据修改前的专利法第45条)
1991-05-15 ：
授权
1990-08-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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