半导体元件直流耐压自动测试器
专利权的终止专利权的主动放弃
摘要
半导体元件直流耐压自动测试器属于一种用于测定半导体元件直流耐压的新型测试装置。本发明特点是，自动调控测试电压，测量电流多档可选；测试精度高，造价低；整机工作安全可靠，小巧轻便，弥补了一般公知的半导体元器件测试设备的不足。本发明包括自动恒流测压系统和自动步进调压系统两部分。
基本信息
专利标题 ：
半导体元件直流耐压自动测试器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1055242A
申请号 ：
CN90105077.6
公开（公告）日 ：
1991-10-09
申请日 ：
1990-03-31
授权号 ：
CN1022067C
授权日 ：
1993-09-08
发明人 ：
范传明
申请人 ：
大连发电总厂
申请人地址 ：
116021辽宁省大连市沙河口区西安路40号
代理机构 ：
沈阳市专利事务所
代理人 ：
刘兆年
优先权 ：
CN90105077.6
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2003-05-21 ：
专利权的终止专利权的主动放弃
2002-04-24 ：
其他有关事项
1993-09-08 ：
授权
1991-12-11 ：
实质审查请求已生效的专利申请
1991-10-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN1022067C.PDF
PDF下载
2、
CN1055242A.PDF
PDF下载
