一种信噪比高结构灵活的荧光测量装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种信噪比高结构灵活的荧光测量装置，包括集光系统、单色仪和记录仪。集光系统2由集光透镜组和金属保护筒组成；由反应腔作为激光荧光源的屏蔽，用光导纤维作为光能传输元件，可有效地消除光束发散和准直不严而在内侧引起的反射。采用本装置对激光致荧光测量可获得信噪比高、光谱信号清晰的效果，且结构灵活、方便可靠。本装置可广泛用于测定原子能级、光谱研究以及各种强光-物质相互作用的研究。
基本信息
专利标题 ：
一种信噪比高结构灵活的荧光测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN90218005.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1990-08-21
授权号 ：
CN2080176U
授权日 ：
1991-07-03
发明人 ：
徐品芳潘文杰
申请人 ：
核工业理化工程研究院
申请人地址 ：
300180天津<七>77号信箱
代理机构 ：
核工业专利法律事务所
代理人 ：
胡恩河
优先权 ：
CN90218005.3
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
1993-07-14 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-01-29 ：
授权
1991-07-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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