一种降低杂散光提高信噪比的浊度测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及浊度测量技术领域，尤其是指一种降低杂散光提高信噪比的浊度测量装置，包括：避光光学盒，光源，透镜，样品池，反射镜，透射光检测器及散射光检测器；光源，透镜，样品池，反射镜，透射光检测器及散射光检测器均与避光光学盒连接；光源发出的光线经过透镜到达样品池，到达样品池的光线一部分透过样品池进入透射光检测器，到达样品池的光线一部分被样品散射进入散射光检测器，且另有一部分散射光线经过反射镜反射再次进入散射光检测器。本实用新型通过使用避光光学盒，光源，透镜，样品池，反射镜，透射光检测器及散射光检测器的组合方式，降低了杂散光，提高了信噪比；还具有结构简单、容易实现、成本低廉的特点，实用性强。
基本信息
专利标题 ：
一种降低杂散光提高信噪比的浊度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123282601.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-24
授权号 ：
CN216696065U
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
甘信强黄丹虹阮建明万勇峰
申请人 ：
深圳市清时捷科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道浪口社区华明路仪佳扬工业园4栋5-6楼(生产场所)、龙华街道清泉路硅谷大院T3栋4-5楼(研发与销售场所)
代理机构 ：
深圳市精英专利事务所
代理人 ：
曹祥波
优先权 ：
CN202123282601.0
主分类号 ：
G01N21/51
IPC分类号 ：
G01N21/51
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射，即漫反射
G01N21/49
固体或流体中的散射
G01N21/51
容器内的，例如安瓿内的
法律状态
2022-06-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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