同位素分析方法和设备
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种同位素分析方法和设备，使被分析物保持在一种条件下使同位素载体物处于激发态并用含特定波长的光照射，测量被分析物中诸如ＣＯ2的多原子载体物的同位素组成，所用波长与同位素载体物的跃迁能量相应。检测由不同波长的光引起的光电效应可测定被分析物与不同波长的光之间的相互作用。上述光由充有同位素载体物的激光器（１０）提供。在化学或生物试验中，可用13Ｃ或18Ｏ等稳定同位素作为示踪物并用本发明的组分测定方法进行检测。
基本信息
专利标题 ：
同位素分析方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1077284A
申请号 ：
CN93102399.8
公开（公告）日 ：
1993-10-13
申请日 ：
1993-02-03
授权号 ：
CN1043685C
授权日 ：
1999-06-16
发明人 ：
Ｄ·Ｅ·默尼克
申请人 ：
新泽西州州立大学(拉特格斯)
申请人地址 ：
美国新泽西州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
马铁良
优先权 ：
CN93102399.8
主分类号 ：
G01N21/63
IPC分类号 ：
G01N21/63
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
法律状态
2003-04-02 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1999-06-16 ：
授权
1996-02-14 ：
实质审查请求的生效
1993-10-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN1077284A.PDF
PDF下载
