测量具有显微成象光路的光学仪器曝光时间的方法和装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
根据本发明方法，一配置在测量光路（Ｍ）上的具有多个分立测量光阑（２，３）的测量光阑板（４）以及一配置在入射光路（Ｅ）上位于标线板（７）附近的具有多个分立遮蔽图形（１２，１３）的遮蔽板（１１）同步运行，因而在测量光路（Ｍ）上的测量光阑（２或３）经入射光路（Ｅ）借助配属的遮蔽图形（１２或１３）和具有测量光阑（２，３）轮廓的标线板（７），同时在观察光路（Ｂ）上的目镜中间象面（１９）上显示出。
基本信息
专利标题 ：
测量具有显微成象光路的光学仪器曝光时间的方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1084654A
申请号 ：
CN93117848.7
公开（公告）日 ：
1994-03-30
申请日 ：
1993-09-18
授权号 ：
CN1043926C
授权日 ：
1999-06-30
发明人 ：
Ｌ·雷马Ｍ·吉尔伯特Ｆ·赫尔曼
申请人 ：
莱卡显微及系统有限公司
申请人地址 ：
联邦德国韦茨拉尔
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
董巍
优先权 ：
CN93117848.7
主分类号 ：
G01J1/04
IPC分类号 ：
G01J1/04 G01J1/42 G02B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/02
零部件
G01J1/04
光学或机械部件
法律状态
2004-11-17 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1999-06-30 ：
授权
1994-03-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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