系统软错误的样本筛选的方法
发明专利申请公布后的驳回
摘要
一种系统软错误的样本筛选的方法。首先，根据第一测试条件对存储设备的存储单元执行写入与读取的操作，以找出发生硬错误的存储单元。接着，根据第二测试条件对该存储设备的存储单元执行读取操作，以找出发生功能性错误的存储单元。根据第三测试条件对该存储设备的存储单元执行读取操作，以找出发生软错误的存储单元。
基本信息
专利标题 ：
系统软错误的样本筛选的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1937088A
申请号 ：
CN200510103791.1
公开（公告）日 ：
2007-03-28
申请日 ：
2005-09-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郭烜超
申请人 ：
力晶半导体股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹市
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
黄小临
优先权 ：
CN200510103791.1
主分类号 ：
G11C29/00
IPC分类号 ：
G11C29/00 G11C11/409
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2009-12-16 ：
发明专利申请公布后的驳回
2007-05-23 ：
实质审查的生效
2007-03-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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