物理量传感器及其制造方法
专利权的终止
摘要
本发明提供了一种包括一对物理量传感器芯片的物理量传感器,所述物理量传感器芯片关于外部模封的底部倾斜,且靠近物理量传感器芯片的外端形成,其中所述外部模封的侧表面在厚度方向上倾斜在0°到5°之间的角度。可能不使用模具实现平台的倾斜,其中吸收装置用于吸收与平台关联的指定部分,所述平台绕轴线旋转,从而关于指定基座倾斜。在制造中,将具有多个引线框架的薄金属板放在由夹具限定的基座上;接着,使形成在引线框架之间的中间部分的交点经受压制,以便实现平台的倾斜。
基本信息
专利标题 :
物理量传感器及其制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1758435A
申请号 :
CN200510108463.0
公开(公告)日 :
2006-04-12
申请日 :
2005-10-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
白坂健一齐藤博
申请人 :
雅马哈株式会社
申请人地址 :
日本国静冈县
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
朱进桂
优先权 :
CN200510108463.0
主分类号 :
H01L25/00
IPC分类号 :
H01L25/00 H01L23/28 H01L21/50 G01R33/02 G01G7/00
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L25/00
由多个单个半导体或其他固态器件组成的组装件
法律状态
2015-11-25 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101635080965
IPC(主分类) : H01L 25/00
专利号 : ZL2005101084630
申请日 : 20051008
授权公告日 : 20090325
终止日期 : 20141008
号牌文件序号 : 101635080965
IPC(主分类) : H01L 25/00
专利号 : ZL2005101084630
申请日 : 20051008
授权公告日 : 20090325
终止日期 : 20141008
2009-03-25 :
授权
2006-06-07 :
实质审查的生效
2006-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
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