使用t－检验计算的k－均值聚类
专利权的终止
摘要
一种用于使用t－检验计算进行k－均值聚类的方法、设备和系统。按照一个实施例，k－均值聚类在数据集上执行。在执行k－均值聚类的时候，具有不同点的数据集被分区成几个聚类。确定一个给定点对于一个给定聚类的紧密度。然后，执行t－检验计算以确定所述点与所述聚类之间的统计线性关系。如果接近于聚类的点被找到，并且所述点与所述聚类之间的统计线性关系也被找到，则所述点的位置就保持不动。
基本信息
专利标题 ：
使用t－检验计算的k－均值聚类
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1770161A
申请号 ：
CN200510119974.2
公开（公告）日 ：
2006-05-10
申请日 ：
2005-09-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
Q·刁
申请人 ：
英特尔公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
刘杰
优先权 ：
CN200510119974.2
主分类号 ：
G06F17/30
IPC分类号 ：
G06F17/30
法律状态
2016-11-16 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101687376404
IPC(主分类) : G06F 17/30
专利号 : ZL2005101199742
申请日 : 20050928
授权公告日 : 20100224
终止日期 : 20150928
号牌文件序号 : 101687376404
IPC(主分类) : G06F 17/30
专利号 : ZL2005101199742
申请日 : 20050928
授权公告日 : 20100224
终止日期 : 20150928
2010-02-24 ：
授权
2006-07-05 ：
实质审查的生效
2006-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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