一种使对焊料凸点的电迁移损坏最小化的导电线设计
专利权的终止
摘要

本发明提供了一种设计方法,该方法通过试图在集成电路焊盘和结点之间的接口处产生更均匀的电流分布,同时保持与标准集成电路设计一致的接口形式,从而降低了集成电路结点中的电迁移。该设计方法通过在电流输送导电线和焊盘之间引入中间导电线布线设计,来针对解决焊盘处的电流分布,该中间导电线布线设计对从导电线到焊盘上的多个进入点的电流流入进行分布。中间导电线布线设计包括连接到电流输送导电线的外导电线沟道。多个导电线引线将外导电线沟道连接到焊盘。优选地,多个导电线引线中的每一个的特征在于各自的导电线阻抗,以使得经过每个引线到焊盘的电流分布相等。

基本信息
专利标题 :
一种使对焊料凸点的电迁移损坏最小化的导电线设计
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1815725A
申请号 :
CN200510132262.4
公开(公告)日 :
2006-08-09
申请日 :
2005-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
沃尔特·约翰·道克沙尔韦恩·帕特里克·里克林威廉·S·格劳普
申请人 :
安捷伦科技有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
王怡
优先权 :
CN200510132262.4
主分类号 :
H01L23/485
IPC分类号 :
H01L23/485  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/48
用于向或自处于工作中的固态物体通电的装置,例如引线或接线端装置
H01L23/482
由不可拆卸地施加到半导体本体上的内引线组成的
H01L23/485
包括导电层和绝缘层组成的层状结构,例如平面型触头
法律状态
2014-02-19 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101571526958
IPC(主分类) : H01L 23/485
专利号 : ZL2005101322624
申请日 : 20051222
授权公告日 : 20090916
终止日期 : 20121222
2009-09-16 :
授权
2006-12-20 :
专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 安捷伦科技有限公司
变更后权利人 : 安华高科技杰纳勒尔IP(新加坡)私人有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国加利福尼亚州
变更后权利人 : 新加坡新加坡市
登记生效日 : 20061117
2006-10-04 :
实质审查的生效
2006-08-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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