取样电路与测试装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明是有关于一种取样电路，其对所施加的输入信号进行取样，包括：脉波产生器，其对应于输入信号应取样时的时序以产生脉波信号；突返二极管，其对应于脉波信号以输出一取样脉波；检出器，其对应于取样脉波以检出该输入信号的值；温度检出电路，其检出该突返二极管近旁的温度；以及温度补偿部，其依据温度检出电路所检出的温度以控制该突返二极管在输出该取样脉波时的时序。
基本信息
专利标题 ：
取样电路与测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101057402A
申请号 ：
CN200580038251.8
公开（公告）日 ：
2007-10-17
申请日 ：
2005-10-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
山川雅裕梅村芳春淡路利明志波诚士
申请人 ：
爱德万测试株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
北京中原华和知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
寿宁
优先权 ：
CN200580038251.8
主分类号 ：
H03K3/313
IPC分类号 ：
H03K3/313 H03K17/00
法律状态
2010-12-29 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101058384959
IPC(主分类) : H03K 3/313
专利申请号 : 2005800382518
公开日 : 20071017
号牌文件序号 : 101058384959
IPC(主分类) : H03K 3/313
专利申请号 : 2005800382518
公开日 : 20071017
2007-12-12 ：
实质审查的生效
2007-10-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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