电路测试装置
专利权的终止
摘要
本实用新型提供一种电路测试装置，用来测试一待测试元件，其中待测试元件包括一第一输出端以及一第二输出端，该第一输出端以及该第二输出端用以分别产生一第一输出信号以及一第二输出信号。电路测试装置用以根据该第一输出信号以及该第二输出信号，决定待测试元件的测试结果。本实用新型的测试架构可以有效提升晶片测试的速度，进一步提升测试效率。
基本信息
专利标题 ：
电路测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200820126707.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2008-06-24
授权号 ：
CN201255764Y
授权日 ：
2009-06-10
发明人 ：
滕贞勇张立颖
申请人 ：
普诚科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台北县
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN200820126707.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2015-08-12 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101620198624
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2008201267077
申请日 : 20080624
授权公告日 : 20090610
终止日期 : 20140624
号牌文件序号 : 101620198624
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2008201267077
申请日 : 20080624
授权公告日 : 20090610
终止日期 : 20140624
2009-06-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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