电路测试装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开一种电路测试装置,用来测试一待测试元件。该电路测试装置包含有一滤波电路、一放大电路、一比较模块、以及一结果检测模块。该滤波电路对该待测试元件所产生的一模拟输出信号进行滤波以产生一滤波信号。该放大电路对该滤波信号进行放大以产生一放大信号。该比较模块比较该放大信号与至少一参考电平以据以产生至少一结果信号。该结果检测模块则通过检测该至少一结果信号以决定该待测试元件的测试结果。

基本信息
专利标题 :
电路测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620133191.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-09-05
授权号 :
CN201007737Y
授权日 :
2008-01-16
发明人 :
滕贞勇许益彰蒋维棻林杨铭张立颖
申请人 :
普诚科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾台北县
代理机构 :
北京市柳沈律师事务所
代理人 :
王志森
优先权 :
CN200620133191.X
主分类号 :
G01R31/3167
IPC分类号 :
G01R31/3167  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/3167
••综合的模拟和数字电路测试
法律状态
2016-10-26 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101684358920
IPC(主分类) : G01R 31/3167
专利号 : ZL200620133191X
申请日 : 20060905
授权公告日 : 20080116
终止日期 : 20150905
2008-01-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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