电路测试装置
授权
摘要
本实用新型公开一种电路测试装置，其中，该电路测试装置包括采样电路、主控芯片、电平转换芯片及用于连接显示设备的信号输出接口，采样电路的输出端与主控芯片的ADC采样端连接，主控芯片的输出端与电平转换芯片的输入端连接，电平转换芯片的输出端与信号输出接口连接；采样电路，用于对待测电路板进行电流和/或电压采样，并输出对应的电流和/或电压模拟采样信号至主控芯片；主控芯片，用于将电流和/或电压模拟采样信号转换为对应的TTL电平信号并输出至电平转换芯片；电平转换芯片，用于将TTL电平信号转换为可供显示设备识别的电平信号，并经信号输出接口输出至显示设备。本实用新型技术方案提升了电路测试装置的可靠性。
基本信息
专利标题 ：
电路测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921477215.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-05
授权号 ：
CN210720650U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
吴代磊
申请人 ：
南京创维信息技术研究院有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市雨花台区宁双路28号10层1036
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
肖文静
优先权 ：
CN201921477215.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R19/25 G01R1/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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