具有分段的衬底的探针卡
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
提供了一种用于测试半导体小片的探针卡。所述探针卡包括:安装盘;以及多个衬底部分,由安装盘支撑。多个衬底部分由安装盘通过框架支撑。通过这种结构,可以提供由单个较小衬底部分的组合形成的相对较大尺寸的探针卡。因此,通过单个较小衬底部分的良好属性确保了大尺寸探针卡的理想的平整度特性、制造特性、以及位置容差。
基本信息
专利标题 :
具有分段的衬底的探针卡
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101133338A
申请号 :
CN200580047165.3
公开(公告)日 :
2008-02-27
申请日 :
2005-11-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
斯科特·R·威廉斯巴哈德尔·图纳博伊卢安霍-塔伊·源
申请人 :
SV探针私人有限公司
申请人地址 :
新加坡新加坡
代理机构 :
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 :
余刚
优先权 :
CN200580047165.3
主分类号 :
G01R31/319
IPC分类号 :
G01R31/319 G01R1/073 G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/319
••••测试器硬件,即输出处理电路
法律状态
2010-08-18 :
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101004078073
IPC(主分类) : G01R 31/319
专利申请号 : 2005800471653
公开日 : 20080227
号牌文件序号 : 101004078073
IPC(主分类) : G01R 31/319
专利申请号 : 2005800471653
公开日 : 20080227
2008-04-23 :
实质审查的生效
2008-02-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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