光学器件的试验装置

专利申请权、专利权的转移

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摘要

本发明揭示一种光学器件的试验装置。即使是外部连接端子接触面的位置与半导体激光元件的发光出射方向之间的位置关系不同的形态的光学器件，也可以兼用试验装置进行试验。

基本信息

专利标题：

光学器件的试验装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1835201A

申请号：

CN200610067324.2

公开（公告）日：

2006-09-20

申请日：

2006-03-15

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

早水勲西川透立柳昌哉田中彰一

申请人：

松下电器产业株式会社

申请人地址：

日本大阪府

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司

代理人：

沈昭坤

优先权：

CN200610067324.2

主分类号：

H01L21/66

IPC分类号：

H01L21/66 H01S3/13 G01J1/00

IPC结构图谱

H部——电学

H01

基本电气元件

H01L

半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件

H01L21/00

专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备

H01L21/66

在制造或处理过程中的测试或测量

法律状态

2020-06-16 ：

专利申请权、专利权的转移

专利权的转移IPC(主分类) : H01L 21/66
登记生效日 : 20200528
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 松下电器产业株式会社
变更后权利人 : 松下半导体解决方案株式会社
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 日本大阪府
变更后权利人 : 日本京都府

2012-06-06 ：

专利实施许可合同备案的生效、变更及注销

专利实施许可合同备案的生效号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101364328524
IPC(主分类) : H01L 21/66
专利申请号 : 2006100673242
专利号 : ZL2006100673242
合同备案号 : 2012990000226
让与人 : 松下电器产业株式会社
受让人 : 苏州松下半导体有限公司
发明名称 : 光学器件的试验装置
申请日 : 20060315
公开日 : 20060920
授权公告日 : 20090624
许可种类 : 普通许可
备案日期 : 20120413

2009-06-24 ：

授权

2007-12-19 ：

实质审查的生效

2006-09-20 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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