一体化自动集成测试仪
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要
本实用新型公开了一种一体化自动集成测试仪包括测试信号发生单元、硬逻辑门主控单元、测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元、数据通信单元、传感器，测试信号发生单元包括DSP数字处理器、D/A转换器；测试信号发生单元与硬逻辑门主控单元、测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元、硬逻辑门主控单元相接，传感器与测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元相接，硬逻辑门主控单元与数据通信单元相接。本实用新型测试精度高，成本低，外接连线减少，具有良好的易用性，测试系统的可靠性好和稳定性高。
基本信息
专利标题 ：
一体化自动集成测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620140566.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-11-30
授权号 ：
CN200972500Y
授权日 ：
2007-11-07
发明人 ：
安庆敏黄克强吴明光
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
310027浙江省杭州市浙大路38号
代理机构 ：
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 ：
张法高
优先权 ：
CN200620140566.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/317 G05B19/02 H04L29/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2008-10-15 ：
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 2008101
2007-11-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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