利用两个位移脉冲来测试或测量电气元件之方法及系统
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明涉及一种为以测试或测量电气元件(2－1)之方法，其包含如下步骤：将第一粒子束(4－1)施加于电气元件之第一位置(3－1)，以自该第一位置处释放电子；将第二粒子束(4－2)施加于电气元件之第二位置(3－2)，而相关于施加该第一粒子束(4－1)具有非零之时间位移(Δt)，以自该第二位置处释放电子；收集在该第一及该第二粒子束之效应下所释放出的电子；以及测量至少对应于该第二粒子束之效应下而释放的所收集电子之电荷数量；以及按定量方式或定性方式自此引发出该电气元件之电气特性。
基本信息
专利标题 ：
利用两个位移脉冲来测试或测量电气元件之方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101116002A
申请号 ：
CN200680004084.X
公开（公告）日 ：
2008-01-30
申请日 ：
2006-01-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
克里斯多弗·沃彻皮耶尔·班奈奇
申请人 ：
法商柏奈德公司
申请人地址 ：
法国波度尔市
代理机构 ：
北京连和连知识产权代理有限公司
代理人 ：
王光辉
优先权 ：
CN200680004084.X
主分类号 ：
G01R31/308
IPC分类号 ：
G01R31/308 G01R31/305
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/08
探测电缆、传输线或网络中的故障
G01R31/14
所用的电路
G01R31/308
使用非电离电磁辐射，如光辐射
法律状态
2010-08-25 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101006992205
IPC(主分类) : G01R 31/308
专利申请号 : 200680004084X
公开日 : 20080130
号牌文件序号 : 101006992205
IPC(主分类) : G01R 31/308
专利申请号 : 200680004084X
公开日 : 20080130
2008-04-02 ：
实质审查的生效
2008-01-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
