一种纺织品缺陷检测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种纺织品缺陷检测装置,包括CCD摄像机阵列、光源阵列、计算机服务器及其内部的纺织品缺陷检测程序模块以及连接CCD摄像机阵列和计算机服务器的数据线、连接在计算机服务器上的CCD摄像机控制线及光源控制线。本实用新型采用小波分析技术,只进行一层小波分解,计算速度快,定位准确,又考虑了处理的实时性。此外,本实用新型不需要任何纺织品缺陷的先验知识,不需要进行机器学习或训练,通用性好。

基本信息
专利标题 :
一种纺织品缺陷检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720018336.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-01-30
授权号 :
CN201081763Y
授权日 :
2008-07-02
发明人 :
蹇木伟董军宇苏强国锋
申请人 :
蹇木伟;苏强
申请人地址 :
266100山东省青岛市崂山区松岭路238号中国海洋大学信息科学与工程学院
代理机构 :
青岛海昊知识产权事务所有限公司
代理人 :
张中南
优先权 :
CN200720018336.6
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  D06H3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2010-08-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101004362835
IPC(主分类) : G01N 21/88
专利号 : ZL2007200183366
申请日 : 20070130
授权公告日 : 20080702
2008-07-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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