本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对14线金属封装固体继电器元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。按照7对14组线双列型的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和锁紧装置。插座体由座、盖组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型，用于被试器件的定位安装；接触件为双簧片结构，采用纵向排列、自动锁紧和零插拔力结构安装于插座体的座中；锁紧装置由滑块和手柄组成，当手柄受力向下翻转90°时，使滑块产生位移，接触件自动锁紧被试器件引出线，通电后进行高温老化试验和性能测试，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和方便使用的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。