一种插座快速老化测试装置
授权
摘要
本实用新型属于插座测试技术领域，具体涉及一种插座快速老化测试装置。包括：插头容纳腔，用于容纳插座的所有插头；所述插头容纳腔，包括测试正电极、测试负电极和朝上的插座插口；所述测试正电极包括用于与所述插座的正极插头电接触的电接触部，所述测试负电极包括用于与所述插座的负极插头电接触的电接触部；驱动装置，用于驱动所述测试正电极和/或所述测试负电极，使得其电接触部能够与所述插座的对应插头电接触或分离。上述技术方案中，直接将待测试的插座插头朝下放入至插头容纳腔，由驱动装置驱动插头容纳腔中的电极靠近或者远离对应的插头实现测试正、负电极与插座的电接触，测试过程更加方便。
基本信息
专利标题 ：
一种插座快速老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920710112.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-17
授权号 ：
CN210243812U
授权日 ：
2020-04-03
发明人 ：
张涛沈伟李星晨江德军沈能姬敏杰孔祥明陈燕蔡美行
申请人 ：
长兴博泰电子科技股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省湖州市长兴县经济开发区南庄路289号
代理机构 ：
浙江千克知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵卫康
优先权 ：
CN201920710112.4
主分类号 ：
G01R31/68
IPC分类号 ：
G01R31/68 G01R31/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/68
可拆开的连接的测试，例如安装于印刷电路板的端子
法律状态
2020-04-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
