44线塑料封装有引线片式载体老化测试插座

专利权的终止

摘要

本实用新型属提高微电子元器件可靠性领域，尤其能对44线塑料封装有引线片式载体元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。它按照44线塑料封装有引线片式载体元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计由三个部分组成，即插座体、接触件和定位装置。插座体主要由座、盖组成，选用进口的耐高温型特种高温工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用于接触件和被试器件的固定。接触件以铍青铜材料经线切割机切割下料和打弯成型，由对称的四面簧片组成，并与被试器件引出线相对应，安装于插座体座上，当用力将被试器件向下按时，被试器件引线将卡在接触件的槽中，与接触件接触。插座采用定位板定位，被试器件并放在定位板上，通电后进行高温老化试验和性能测试，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、低插拔力、表面耐磨和使用方便

基本信息

专利标题：

44线塑料封装有引线片式载体老化测试插座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720109305.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-05-10

授权号：

CN201112797Y

授权日：

2008-09-10

发明人：

曹宏国

申请人：

曹宏国

申请人地址：

313119浙江省长兴县槐坎乡新街电子厂108号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200720109305.1

主分类号：

H01R13/46

IPC分类号：

H01R13/46 H01R13/33 H01R13/639 H01R13/629 G01R1/02 G01R31/26