新型测试结构和包含该测试结构的测试系统

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种新型测试结构，包括第一射频接头和测试夹具，其特征在于，还包括承载板，所述第一射频接头与所述承载板固定连接，所述承载板通过若干弹性部件与所述测试夹具弹性连接。本实用新型同时还公开了一种包含上述测试结构的测试系统。本实用新型中，在测试夹具垂直向PCBA板移动时，所述第一射频接头自动偏向，以便与被测产品上的射频接头的端面紧密吻合，保证了射频测试结果的准确性，并且，在测试完成之后，在弹性部件的作用下，所述第一射频接头能够自动复位。在生产测试过程中，应用本实用新型能够较大提升产品的合格率，降低重测不合格率，进而提高出货效率，节约劳动力成本。

基本信息

专利标题：

新型测试结构和包含该测试结构的测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820054505.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-01-04

授权号：

CN201149610Y

授权日：

2008-11-12

发明人：

汪书红任重邱文谅

申请人：

英华达(上海)电子有限公司

申请人地址：

200233上海市桂箐路7号

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司

代理人：

逯长明

优先权：

CN200820054505.6

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R1/02