一种小体积永磁体的外观检查装置
专利权的终止
摘要
一种小体积永磁体的外观检查装置,其特征在于,该外观检查装置包括:振动排列装置,其将一系列小体积钕铁硼磁体形成规则排列;输送装置,其将规则排列的一系列小体积钕铁硼磁体向合格良品承装容器进行输送;识别装置,其获得小体积钕铁硼磁体的图像,并且进行放大;监视器,其将放大的小体积钕铁硼磁体图像显示在显示器上;剔出装置,其将具有外观瑕疵的小体积钕铁硼磁体从输送装置上作为废品剔出至不良品承装容器。根据本实用新型的小体积永磁体的外观检查装置,有利于操作者的用眼卫生保健、工作效率高、而且可大大降低废品检出遗漏的现象。
基本信息
专利标题 :
一种小体积永磁体的外观检查装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820122879.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-13
授权号 :
CN201269856Y
授权日 :
2009-07-08
发明人 :
张来树赵玉刚郄永峰刘刚王志伟陈明丁海峰
申请人 :
三环瓦克华(北京)磁性器件有限公司;北京中科三环高技术股份有限公司
申请人地址 :
102200北京市昌平区科技园区创新路10号
代理机构 :
北京王景林知识产权代理事务所
代理人 :
王景林
优先权 :
CN200820122879.7
主分类号 :
G01N21/89
IPC分类号 :
G01N21/89
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中,例如,纸张、织物中
法律状态
2018-11-06 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 21/89
申请日 : 20081013
授权公告日 : 20090708
申请日 : 20081013
授权公告日 : 20090708
2009-07-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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