三碲化二铋晶棒测试装置

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种装置，具体地说是涉及一种三碲化二铋晶棒测试装置。包括表盘、数字温度仪、数字电压表和数字电流表，表盘具有安装数字温度仪、数字电压表和数字电流表的座孔，数字温度仪、数字电压表和数字电流表镶嵌在表盘上，数字温度仪、数字电压表和数字电流表各有引出的导线。本装置具有结构紧凑，占地较小、一次即可测定三碲化二铋晶棒的所有技术参数的优点。

基本信息

专利标题：

三碲化二铋晶棒测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820148517.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-08-14

授权号：

CN201251617Y

授权日：

2009-06-03

发明人：

张根清宋暖欧阳进民

申请人：

河南久大电子电器有限公司

申请人地址：

461500河南省长葛市机场路北段久大电子电器有限公司

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200820148517.5

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G01R19/00

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/26

•单个半导体器件的测试

法律状态

2010-11-24 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101017293067
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利号 : ZL2008201485175
申请日 : 20080814
授权公告日 : 20090603
终止日期 : 20090914

2009-06-03 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

文件下载

暂无PDF文件可下载