三碲化二铋晶棒测试装置
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及一种装置,具体地说是涉及一种三碲化二铋晶棒测试装置。包括表盘、数字温度仪、数字电压表和数字电流表,表盘具有安装数字温度仪、数字电压表和数字电流表的座孔,数字温度仪、数字电压表和数字电流表镶嵌在表盘上,数字温度仪、数字电压表和数字电流表各有引出的导线。本装置具有结构紧凑,占地较小、一次即可测定三碲化二铋晶棒的所有技术参数的优点。
基本信息
专利标题 :
三碲化二铋晶棒测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820148517.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-08-14
授权号 :
CN201251617Y
授权日 :
2009-06-03
发明人 :
张根清宋暖欧阳进民
申请人 :
河南久大电子电器有限公司
申请人地址 :
461500河南省长葛市机场路北段久大电子电器有限公司
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200820148517.5
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26 G01R19/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2010-11-24 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101017293067
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利号 : ZL2008201485175
申请日 : 20080814
授权公告日 : 20090603
终止日期 : 20090914
号牌文件序号 : 101017293067
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利号 : ZL2008201485175
申请日 : 20080814
授权公告日 : 20090603
终止日期 : 20090914
2009-06-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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