用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种微波同轴开关，特别涉及一种适用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关。用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，其特征在于，它包括：一信号输入单元，信号输入单元由复数个接线柱组成；复数个接线柱分别连接智能控制单元，智能控制单元连接复数个继电器的信号输入端；一个继电器具有相互导通的两个常开触头，与两个常开触头对应的设有主SMA阴接头和辅SMA阴接头，主SMA阴接头和辅SMA阴接头分别连接外部受控电路。可完成一点向多点的信号输入和切换，最高频率可到26.5GHz。开关时间小于20ms，具有低损耗，高隔离度，寿命长，可靠性高等特点。

基本信息

专利标题：

用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820153721.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-10-06

授权号：

CN201319398Y

授权日：

2009-09-30

发明人：

周蕾戴林华冯林康潘统连

申请人：

上海华湘计算机通讯工程有限公司

申请人地址：

200233上海市徐汇区田州路99号13号楼3层

代理机构：

上海天翔知识产权代理有限公司

代理人：

陈学雯

优先权：

CN200820153721.6

主分类号：

H01P1/10

IPC分类号：

H01P1/10