光谱成像检测器
授权
摘要
一种包括光电二极管阵列(122)的一维多元件光电检测器(120)，所述光电二极管阵列(122)具有第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素。光电二极管阵列(122)是所述光电检测器(120)的一部分。闪烁器阵列(126)包括第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素。第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素分别与第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素光耦合。光电检测器(120)也包括读取电子装置(124)，所述读取电子装置也是所述光电检测器(120)的一部分。电迹线(512)将光电二极管像素与读取电子装置(124)互连。
基本信息
专利标题 ：
光谱成像检测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN105044758A
申请号 ：
CN201510387113.6
公开（公告）日 ：
2015-11-11
申请日 ：
2009-10-29
授权号 ：
CN105044758B
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
R·A·马特森R·P·卢赫塔M·A·查波
申请人 ：
皇家飞利浦电子股份有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
李光颖
优先权 ：
CN201510387113.6
主分类号 ：
G01T1/00
IPC分类号 ：
G01T1/00 G01T1/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
法律状态
2022-06-14 ：
授权
2015-12-09 ：
实质审查的生效
号牌文件类型代码 : 1604
号牌文件序号 : 101636445411
IPC(主分类) : G01T 1/00
专利申请号 : 2015103871136
申请日 : 20091029
号牌文件序号 : 101636445411
IPC(主分类) : G01T 1/00
专利申请号 : 2015103871136
申请日 : 20091029
2015-11-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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