一种量子点表面配体覆盖率的测定方法
授权
摘要
本发明提出一种量子点表面配体覆盖率的测定方法，可用于对量子点的质量评定。若Ki小于2*10‑10mol/cm2，则量子点质量欠佳，需将Ki值提高后再进行溶液或墨水配置等应用。采用本方法确定量子点表面配体覆盖率，结果准确，操作简单，进一步，通过本发明的方法能保证量子点表面配体含量的稳定性，能保证不同批次的量子点的溶解性，避免量子点溶液制备成膜时因干燥速率不同导致的咖啡环效应，能提高量子点显示面板的像素分辨率、启亮电压、光电效率的均一性。
基本信息
专利标题 ：
一种量子点表面配体覆盖率的测定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109932357A
申请号 ：
CN201711352540.6
公开（公告）日 ：
2019-06-25
申请日 ：
2017-12-15
授权号 ：
CN109932357B
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
覃辉军叶炜浩杨一行
申请人 ：
TCL集团股份有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市仲恺高新技术开发区十九号小区
代理机构 ：
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王永文
优先权 ：
CN201711352540.6
主分类号 ：
G01N21/73
IPC分类号 ：
G01N21/73
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/71
热激发的
G01N21/73
用等离子体喷嘴或吹管
法律状态
2022-05-24 ：
授权
2022-05-03 ：
著录事项变更
IPC(主分类) : G01N 21/73
变更事项 : 申请人
变更前 : TCL集团股份有限公司
变更后 : TCL科技集团股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 516006 广东省惠州市仲恺高新技术开发区十九号小区
变更后 : 516006 广东省惠州市仲恺高新区惠风三路17号TCL科技大厦
变更事项 : 申请人
变更前 : TCL集团股份有限公司
变更后 : TCL科技集团股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 516006 广东省惠州市仲恺高新技术开发区十九号小区
变更后 : 516006 广东省惠州市仲恺高新区惠风三路17号TCL科技大厦
2019-07-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/73
申请日 : 20171215
申请日 : 20171215
2019-06-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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