显微镜设备、方法和系统

授权

摘要

NIR激发光的脉冲光束以倾斜角度投射到样本(345)中，并由扫描元件扫描通过样本中的体积。双光子激发能激发样本内的荧光。无论扫描元件的取向如何，荧光都成像到保持静止的中间图像平面上。图像由光检测元件(392)的线性阵列、或矩形阵列的线性部分捕获。在扫描元件的任何给定位置处，线性阵列(或部分)同时对所有深度进行成像。针对扫描元件的多个不同取向中的每一个，捕获多个图像。控制扫描元件的取向以二维模式移动，这使得激发光光束扫掠出样本内的三维体积。

基本信息

专利标题：

显微镜设备、方法和系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110178069A

申请号：

CN201780083341.1

公开（公告）日：

2019-08-27

申请日：

2017-11-12

授权号：

CN110178069B

授权日：

2022-05-17

发明人：

E·M·C·希尔曼

申请人：

纽约市哥伦比亚大学理事会

申请人地址：

美国纽约

代理机构：

北京思益华伦专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

赵飞

优先权：

CN201780083341.1

主分类号：

G02B21/00

IPC分类号：

G02B21/00 G01N21/64 G02B21/36