用于增强光热成像和光谱的方法和设备
授权
摘要
利用结合分析和包括具有共聚焦显微镜的双光束光热谱、拉曼光谱、荧光检测、各种真空分析技术和/或质谱的成像技术的多功能平台，对纳米级到毫米级以上的样品进行化学光谱分析的系统。在本文描述的实施例中，双光束系统的光束用于加热和感测。
基本信息
专利标题 ：
用于增强光热成像和光谱的方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110300883A
申请号 ：
CN201780084916.1
公开（公告）日 ：
2019-10-01
申请日 ：
2017-11-29
授权号 ：
CN110300883B
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
C·普拉特K·科约勒R·谢蒂
申请人 ：
光热光谱股份有限公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
广州川墨知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
龙亮华
优先权 ：
CN201780084916.1
主分类号 ：
G01J3/02
IPC分类号 ：
G01J3/02 G01J3/42 G01N21/65 G01J3/427 G01J3/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2022-05-10 ：
授权
2019-12-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/02
申请日 : 20171129
申请日 : 20171129
2019-10-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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