显微组件下大行程低温漂的低温微纳米压痕测试系统
授权
摘要

本发明涉及一种显微组件下大行程低温漂的低温微纳米压痕测试系统,属于精密仪器技术领域。包括真空室系统模块、滑动式低温恒温器组件和压痕测试机械结构模块。利用精密位移驱动平台配合音圈电机的混合驱动方式,实现大行程准静态加载,利用接触制冷方式对样品和压头同时制冷,通过内嵌集成的加热元件和测温元件,实现连续变温闭环调节并削弱低温“温漂”对测试结果的影响,利用显微成像组件实现对压痕位置的精确定位与表面形貌原位观测。为开展材料在低温环境下的力学性能以及材料力学性能随温度的变化规律等研究提供试验基础,对航空航天、极地和深海科考装备以及超导传输设备等关键服役材料力学性能的研究具有显著的应用价值。

基本信息
专利标题 :
显微组件下大行程低温漂的低温微纳米压痕测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108535129A
申请号 :
CN201810336308.1
公开(公告)日 :
2018-09-14
申请日 :
2018-04-16
授权号 :
CN108535129B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
赵宏伟王赵鑫王顺博张萌孙一帆赵运来王吉如徐博文刘思含王军炎
申请人 :
吉林大学
申请人地址 :
吉林省长春市前进大街2699号
代理机构 :
吉林长春新纪元专利代理有限责任公司
代理人 :
王怡敏
优先权 :
CN201810336308.1
主分类号 :
G01N3/42
IPC分类号 :
G01N3/42  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/40
测试硬度或回弹硬度
G01N3/42
用压头在稳定载荷下压印,例如球形压头,棱锥形压头
法律状态
2022-04-01 :
授权
2018-10-16 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 3/42
申请日 : 20180416
2018-09-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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