用于锥束CT成像的原位高/低温压痕测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于锥束CT成像的原位高/低温压痕测试装置，属于机电一体化精密科学仪器及材料测试领域。包括锥束CT成像单元、高/低温压痕测试单元、电动旋转平台、隔振台及硅油控温装置，锥束CT成像单元、电动旋转平台与硅油控温装置安装在隔振台上；高/低温压痕测试单元固定在电动旋转平台上；高/低温压痕测试单元包括高/低温加载子模块、精密加载与检测子模块、真空保障子模块。本实用新型可在锥束CT成像单元的动态监测下开展‑50℃~120℃高/低温环境下的原位微纳米压痕测试，对材料在高应力应变作用下的微观变形和损伤过程进行原位观测与三维成像，为揭示力热耦合加载条件下材料的力学行为及其微观组织变化的本构关系提供了有效的技术手段。
基本信息
专利标题 ：
用于锥束CT成像的原位高/低温压痕测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920593683.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-28
授权号 ：
CN210154960U
授权日 ：
2020-03-17
发明人 ：
周水龙张建海赵宏伟王顺博张世忠孟凡越赵久成
申请人 ：
吉林大学
申请人地址 ：
吉林省长春市前进大街2699号
代理机构 ：
吉林长春新纪元专利代理有限责任公司
代理人 ：
王怡敏
优先权 ：
CN201920593683.4
主分类号 ：
G01N3/54
IPC分类号 ：
G01N3/54
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/54
••在高温或低温下进行试验
法律状态
2020-03-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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