测试系统和方法
授权
摘要
本公开涉及测试系统和方法。提出的实施例便于有效和高效地接入被测设备。在一个实施例中,测试系统包括:设备接口板(DIB),该DIB被配置为与被测设备(DUT)接口连接;以及基元,该基元被配置为控制设备接口板和对被测设备的测试。该基元是独立的自包含测试控制单元,包括:底板接口,被配置为与设备接口板耦接;电源组件,被配置为控制到底板接口的电力;以及站点模块,被配置为控制发送到设备接口板和被测设备的测试信号。站点模块可针对不同的测试协议进行重新配置。该基元可以与分布式测试基础结构相兼容。在一个示例性实施方式中,基元和设备接口板是便携式的并且可操作以执行不受其他控制组件约束的独立测试。
基本信息
专利标题 :
测试系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108802519A
申请号 :
CN201810401307.0
公开(公告)日 :
2018-11-13
申请日 :
2018-04-28
授权号 :
CN108802519B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
梅-梅·苏本·罗杰尔-法维拉
申请人 :
爱德万测试公司
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
宗晓斌
优先权 :
CN201810401307.0
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-05-13 :
授权
2020-04-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20180428
申请日 : 20180428
2018-11-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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