本申请公开了一种过采样处理方法。该过采样处理方法包括：获取少数类样本集合；根据邻域粗糙集算法将所述少数类样本集合划分成少数类边界区和少数类正域；以及在所述少数类边界区和所述少数类正域之间进行插值，生成合成样本。本申请基于邻域粗糙集对于少数类样本集合进行划分，并随机选择少数类边界区样本朝向少数类正域进行有向插值，从而产生更具正域模式的合成样本，以此来增加少数类样本的个数并平衡数据集，由于本申请的过采样方法没有过采样点的正确性校验，故而不存在过采样不充分的问题。本申请解决了现有过采样方法在合成过采样数据过程中存在的无法充分过采样出具有正域模式的合成样本的问题。